果蠅攀爬試驗（Climbing Assay）和運動能力檢測

果蠅的壽命短，加上強大的遺傳操作和全基因組篩選工具，使其成為研究人類神經退行性疾病（neurodegenerativedisorders）的一個理想的模型系統。果蠅模型尤其被廣泛應用于癡呆癥（包括阿爾茨海默氏癥Alzheimerdisease和額顳葉癡呆癥frontotemporaldementia）和各種運動障礙（包括帕金森病Parkinson和肌weisuo側索硬化癥amyotrophiclateralsclerosis）的研究。在許多研究中，需要測量與疾病相關的神經輸出...

查看更多

MINJ-D顯微注射系統簡介

TritechResearch銷售完整的顯微注射系統，該系統將microINJECTOR™控制系統與倒置顯微鏡和微操作設備集成在一起。TritechResearch的DigitalmicroINJECTOR™(MINJ-D)可能是目前Z緊湊、功能Z齊全的壓力型（氣動）微注射控制器。與模擬控制器一樣，它堅固耐用、易于使用，可連接壓縮氣瓶或實驗室噴氣裝置作為壓力源，并配有腳踏控制裝置。微處理器通過簡單的菜單以數字方式合成平衡壓力、注射壓力、清除壓力和脈沖時...

查看更多

EBIRCH（電子束誘導電阻變化）分析方法簡介

EBIRCH(ElectronBeamInducedResistanceChange)背景：短路（short）故障的缺陷定位一直是現代先進納米器件失效分析（FA）的一大挑戰。近年來，電子束誘導電阻變化（EBIRCh）技術已被應用于故障分析。EBIRCH技術與基于SEM的納米探測系統相結合，不僅可以直接對可疑橋接部位進行電學表征，還能以SEM分辨率直接精確定位缺陷位置。Short故障是半導體器件中最常見的電氣故障之一。發射顯微鏡（EMMI）或光束誘導電阻變化（OBIRCH）已被...

查看更多

手持式葉綠素熒光儀使用的注意事項

手持式葉綠素熒光儀是一種專門用于現場快速、無損測定植物葉片中葉綠素熒光特性的儀器，它是基于葉綠素的光譜吸收和熒光發射特性。葉綠素分子在受到特定波長光的激發后，會發射出熒光。儀器通過測量這種熒光的強度和特性，可以間接推算出葉綠素的含量和植物的光合作用效率。手持式葉綠素熒光儀在多個領域具有廣泛的應用價值。在農業生產上，用于監測作物的生長狀態、營養狀況和光合作用效率，為精準施肥和灌溉提供指導。科研方面，用于植物生理學、生態學等領域的科研和教學實驗，幫助學生和科研人員深入了解植物的光...

查看更多

MRC激光光束穩定裝置

產品名稱：laserbeamstabilization（激光光束穩定裝置）品牌：MRCSystems型號：CompactMRC激光光束穩定系統適用于所有需要可靠光束指向穩定性的應用場合。它能確保激光光束位置和方向非常穩定和精確。LBS閉環系統實時工作，可消除熱漂移、振動或其他機械沖擊造成的各種偏差。它甚至還能補償高頻率的影響，如空氣波動、沖擊或移動光學器件。MRC激光光束穩定裝置由三個主要部件組成：具有最高分辨率的光束位置檢測器、非常快速和耐用的壓電驅動鏡架以及閉環控制器由于...

查看更多

果蠅顯微操作精細鑷子

瑞士Dumont鑷子介紹Dumont集傳統專業知識和技術于一身。其產品全部由Dumont公司制造，并在內部印有“A.Dumont&FilsMadeinSwitzerland”的印章。正是Dumont對高品質的追求使其完成對高品質鑷子的制造。DuMont成立于1881年。它是最后幾家全部在瑞士生產的鑷子制造商之一，也是一家獨立的家族企業。公司享有完整的財務和創新自主權，因此能夠設計、開發和制造專家們普遍認為是高品質的鑷子。果蠅顯微操作鑷子目前用于果蠅顯微操作的杜蒙（Dumont...

查看更多

核磁兼容LED光源(MRI compatible LED light sources)

核磁兼容LED光源德國MRC公司提供核磁兼容的相機，作為必要的配件，還提供磁共振成像兼容光源。這些LED光源，可用于眼球跟蹤（eye-tracking）或面部監測（facemonitoring）等應用中的照明。MRC的LED光源分兩種：小型孔內應用的MRCLED和長距離應用的MR-LED-ARRAY-18X。孔內“MRCLED”可以安裝在攝像頭旁邊。MR-LED-ARRAY-18X可用于照亮更遠距離的主體或物體。還有一種窄光束角版本，可用于照亮被攝體的眼睛或面部等。核磁共振：...

查看更多

EBAC/RCI 原理和應用-Kleindiek EBIC放大器

EBAC（ElectronBeamAbsorbedCurrent）RCI（ResistiveContrastImaging）芯片工藝進入55納米/65納米技術節點后，EBAC技術被引入并得到迅速發展。現如今，EBAC、RCI已成為芯片失效分析（failureanalysis,FA）的主要工具之一，用于IC線路的短路，斷路，高阻缺陷的隔離和精確定位。原理：為了探測芯片的特定電路區域，EBAC系統配備了納米探針和掃描電子顯微鏡(SEM)。當電子束（primaryelectronb...

查看更多